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Abstracts

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Contact:
sousan.abolhassani@psi.ch

*Organizing committee and chairpersons*

S. Abolhassani
M. Cantoni
M. Dürrenberger
C. Genoud
L. Holzer
M. Ochs
M. Stampanoni
U. Staufer
R. Wepf

12. Juli - 16. Juli 2009

Interdisciplinary Symposium on 3D Microscopy 2009
Interlaken, Switzerland

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The Swiss Society for Optics and Microscopy (SSOM) organizes an

Interdisciplinary Symposium on 3D Microscopy
in Interlaken, Switzerland, between 12th an 16th of July 2009.

The objective of this symposium is to create a forum for researchers with different expertise and scientific interests to present their knowhow and the techniques they use to answer their scientific questions and to examine the similarities and differences of the methods they use.

Methods using three dimensional imaging to retrieve data in volume will be discussed, whether “light”, x-rays, electrons or near field probes, would be used.

An interdisciplinary approach is given to the symposium; this would imply that most sessions will be plenary. The meeting will also allow the young scientists and those new to the field to obtain an overview of the state of the art methods in 3 D Microscopy. It is wished that the possibilities for future collaboration would be considered as the outcome of this meeting.

 

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Welcome note from the President

Dear Participant

The ‘Interdisciplinary Symposium of 3D Microscopy’ is a new movement in the area of microscopy under the guidance of the Swiss Society for Optics and Microscopy.

With this symposium, we join in non-parallel sessions all needs for 3D microscopy covering all fields of interest and methods from macro to nano dimensions including image processing. This way, the audience can profit in a correlative way from the experience of other disciplines and fields of interest to generate new input in their own research.

Sessions:

- High resolution TEM and AFM
- 3D CLSM and Light Microscopy
- Stereology
- 3D TEM Tomography and Serial Sectioning
- 3D X-ray Microscopy and Tomography
- 3D FIB/SEM or Serial Sectioning (with Denk-method) Blockface Tomography
- 3D Image Analysis and simulation
- 3D Scanning Probe Microscopy
- Plenary Lecture: Free electron laser (XFEL)

I hope that this Symposium arouse your interest and hope to welcome you in July in Interlaken

Markus Dürrenberger, President SSOM

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Veranstaltungshinweis:

Einführung in 3D-Imaging
Systeme, Anwendungen, Trends
Donnerstag, 18. Juni 2009, ETH Hönggerberg

Liebe Mikroskopie community

Am 18. Juni 2009 organisieren das EMEZ / ETHZ, SSOM, CIME / EPFL und Gloor Instruments AG einen spannenden Workshop zum Thema Einführung in 3d-Imaging. Sie und Ihre ArbeitskollegInnen sind herzlich dazu eingeladen, daran teilzunehmen. Anbei finden Sie die Einladung mit Anmeldung, welche bis am Freitag, 5. Juni elektronisch zurückgesendet werden soll. Bitte teilen Sie uns allfällige Interessenten mit, die auch eine Einladung wünschen.
Wir freuen uns, zahlreiche Teilnehmer an der ETH Hönggerberg begrüssen zu dürfen!
Zahlungskonditionen und ein Programm mit Anfahrtsplan zum ausdrucken werden Ihnen nach erfolgter Anmeldung per Mail zugesendet.

Nach öffnen der angefügten pdf - Datei erhalten sie die Einladung inklusive Anmelde-Formular direkt auf Ihren Bildschirm. Die grau hinterlegten Felder müssen Sie zwingend ausfüllen. Ebenso bitten wir Sie, die auf Sie zutreffende Auswahl (Industrie, Forschung, Student/
Doktorand) in Bezug auf die Kosten anzuklicken.

Danach können Sie das gesamte Formular an uns zurückschicken mit der Funktion "Formular senden" (Button oben rechts im Adobe Acrobat Reader). Je nach Softwareversion wird das Formular direkt an uns zurückgeschickt, oder es öffnet sich bei Ihnen ein vorbereitetes Email, welches Sie versenden.
Zögern Sie nicht, mich bei weiteren Fragen zu kontaktieren.

Freundliche Grüsse

Andrea Brandenberger
Gloor Instruments AG
Organisation 3d-Imaging
Brauereistrasse 10
8610 Uster
andrea.brandenberger@gloorinstruments.ch
079 520 11 08


Download "Anmeldeformular"

 



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